Wafer Probing Device Dynamics Analyzer 6505

---

宏汭精測自主研發的 WPDDA 6505 是一台專為第三代半導體晶圓級量測打造的高階 Wafer Probing Device Dynamics Analyzer。

本系統打破傳統限制，將強大的動態分析能力延伸至點測製程，提供 Beyond JEDEC Wafer Test 的完整解決方案。作為頂尖的 Dynamic Rdson Wafer Analyzer，它能在封裝前精準捕捉晶圓在實際高頻切換下的特性表現，並全面支援 Wafer Probing Dynamic Test，協助晶圓代工大廠與設計公司實現最高效率的元件驗證。

客製化探針卡（Custom Probe Card Design）：

專為 SiC / GaN 高壓高頻動態切換設計，具備低寄生電感以確保微秒級波形不失真。

全平台無縫相容（Universal Prober Compatibility）：

支援各大廠牌手動探針台（Manual Prober），並可無縫整合協力設備商之半自動與全自動晶圓點測平台（Semi/Fully Automatic Prober）。