DDA 8010 - 動態特性測試系統 (Dynamics Device Analyzer)

宏汭精測自主研發的 DDA 8010 專為次世代寬能隙功率半導體（GaN/SiC）打造，採用獨家專利拓撲提供超越傳統 JEDEC 標準（Beyond JEDEC Standard）的完整測試解決方案。 

除基礎導通電阻外，系統更精準執行 JEDEC 傳統架構難以涵蓋的 Dynamic Vth 與 Dynamic Forward Voltage 分析，徹底掌握高頻切換下的動態退化與電荷陷捕效應。 

搭載 TE 直面接觸式控溫模組直接貼合 DUT，具備極速升降溫與微秒級熱反應補償，確保 Dynamic Vth、Dynamic Vsd 與 Dynamic HTOL 測試在精準穩定的溫度下進行，大幅提升車規驗證效率。