Device Static Analyzer 1010S - Wafer & Pkg Dual Mode

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宏汭精測全新推出的 Device Static Analyzer (DSA) 1010S，結合獨家 DDL 專利拓撲與精密量測單元，徹底解決傳統測試中頻繁拆接線與耗時除錯的痛點。透過軟體一鍵選取，即可自動完成符合 JEDEC 規範的靜態特性測試。

本系統具備以下四大核心技術優勢：

Wafer & PKG Dual Mode：一機雙模，晶圓與封裝完美兼顧。

IV CV Automation Test：全自動化 I-V / C-V 整合測試。 

Software Defined Testing：軟體高度定義，徹底解放測試彈性。 

High Voltage & Pulse Power：高壓與大電流脈衝的完美結合。 

Thermal Module 採用 TE (Thermal Electric) 直面接觸式控溫技術，將控溫模組直接貼合 DUT，實現極速升降溫與極佳的均溫性。當元件切換產生瞬間高熱時，TE 模組能提供微秒級熱反應補償，測試始終在精準穩定的RT/HT條件下進行。