Dynamic HTOL (DHTOL)
DHTOL (Dynamic HTOL) 量測設備開發 | 獨家 DDL 架構
Q: 什麼是 Dynamic HTOL？它與傳統靜態 HTOL 有何不同？
A: 傳統 HTOL 僅在高溫環境下施加固定的直流偏壓（DC Bias），無法還原元件在實際系統中的頻繁切換狀態。Dynamic HTOL（動態高溫運轉壽命測試） 則是在高溫（如 150°C~175°C 以上）環境中，同時施加高頻高壓的 動態切換應力（Dynamic Switching Stress）。這能精準誘發寬能隙半導體（SiC MOSFET / GaN HEMT）在動態運作下才會出現的 Gate Oxide 崩潰、Dynamic RDS(on) 嚴重退化與 Vth 瞬態漂移，是車用與工業高階晶片不可或缺的頂級可靠度驗證手段。